表面プラズモン共鳴のための変形Otto配置測定光学系を用いた金属上の誘電体薄膜の膜厚測
表面プラズモン共鳴のための変形Otto配置測定光学系を用いた金属上の誘電体薄膜の膜厚測
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使用改进的表面等离子体共振奥托构型测量光学系统测量金属上的介电薄膜的厚度
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
西垣健太郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
桑原光巨;谷川基務;玉木学爾;近江雅人;嶋田純一;春名正光;Koji Eto;西垣健太郎
