Scanning near-field optical microscopy system based on frequency-modulation atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
Scanning near-field optical microscopy system based on frequency-modulation atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
复制标题
基于压电悬臂梁调频原子力显微镜的扫描近场光学显微镜系统
DOI：
10.7567/jjap.53.125201
复制
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H. Yamada
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
N. Satoh;K. Kobayashi;S. Watanabe;T. Fujii;K. Matsushige;H. Yamada
