Y.Aoyama et al.: "Precise Evaluation of Charged Effect on SiO_2 Particles by Simulation of Holograms"Mater. Trans., 43(2002), in press.
Y.Aoyama et al.: "Precise Evaluation of Charged Effect on SiO_2 Particles by Simulation of Holograms"Mater. Trans., 43(2002), in press.
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Y.Aoyama等：“通过全息图模拟精确评估SiO_2颗粒的带电效应”材料。
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