Low-cost spectrum analyzer for trouble shooting noise sources in scanning probe microscopy
Low-cost spectrum analyzer for trouble shooting noise sources in scanning probe microscopy
复制标题
用于排除扫描探针显微镜中噪声源故障的低成本频谱分析仪
DOI：
10.1116/6.0000410
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发表时间：
2020
影响因子：
2.9
通讯作者：
Sykes, E. Charles H.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
McQuillan, Nicholas M.;Larson, Amanda M.;Sykes, E. Charles H.
