Effect of Impurity Scattering on Mobility in Si Nanowire Junctionless FETs

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杂质散射对硅纳米线无结 FET 迁移率的影响

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
and N. Sano
and N. Sano
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
A. Ueda;M. Luisier;and N. Sano

文献摘要

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