等電子トラップを導入したTFETのばらつき評価
等電子トラップを導入したTFETのばらつき評価
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引入等电子陷阱的 TFET 变化评估
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松川貴
中科院分区：
文献类型：
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作者：
森貴洋;右田真司;福田浩一;浅井栄大;森田行則;水林亘;柳永勛;大内真一; 更田裕司;大塚慎太郎;安田哲二;昌原明植;太田裕之;松川貴
