Modelling Dislocation-Induced Anisotropic Line Broadening in Rietveld Refinements Using a Voigt Function. I. General Principles
Modelling Dislocation-Induced Anisotropic Line Broadening in Rietveld Refinements Using a Voigt Function. I. General Principles
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使用 Voigt 函数对 Rietveld 细化中位错引起的各向异性线展宽进行建模。
DOI：
10.1107/s002188989701217x
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. Kisi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. Wu;E. Gray;E. Kisi
Krivoglaz 等人提出的位错引起的 X 射线或中子衍射线展宽理论。 Wilkens 已通过将 Voigt 函数拟合到每个峰来对粉末衍射曲线进行 Rietveld 精修。然后可以通过评估 Voigt 函数的形状参数和指数相关宽度来找到有关滑移系统类型和微晶中位错密度的信息。
The theory of dislocation-induced X-ray or neutron diffraction line broadening developed by Krivoglaz et al. and Wilkens has been adapted for Rietveld refinement of the powder diffraction profile by fitting a Voigt function to each peak. Information on both the type of slip system and the density of dislocations in the crystallites may then be found by evaluating the shape parameter and the index-dependent breadth of the Voigt function.