Uniform methodology for benchmarking beyond-CMOS logic devices
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复制标题
超越 CMOS 逻辑器件基准测试的统一方法
DOI：
10.1109/iedm.2012.6479102
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I. Young
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Nikonov;I. Young
为了指导研究方向，开发了一种一致的超越CMOS逻辑器件的基准测试方法。最有前途的器件-隧道FET和自旋波器件-以1W/cm<sup>2</sup>功率执行整数运算/S/cm<sup>15</sup>。
A consistent methodology for benchmarking beyond CMOS logic devices was developed to guide the research directions. The promising devices - tunneling FET and spin wave devices - perform > 10<sup>15</sup> Integer Ops/s/cm<sup>2</sup> with power <; 1W/cm<sup>2</sup>.