高い面密度を持つCdSe量子ドットのモード利得測定
高い面密度を持つCdSe量子ドットのモード利得測定
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高面密度 CdSe 量子点的模式增益测量
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
須崎健太
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Fukushima K,Sakai M;Natuhara Y; Naito R;Miyashita H;Kato M;Gomi T.;須崎健太
