Black silicon-correlation between microstructure and Raman scattering

Black silicon-correlation between microstructure and Raman scattering
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黑硅——微观结构与拉曼散射的相关性

DOI:
10.2478/jee-2019-0042
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发表时间:
2019
期刊:
Journal of Electrical Engineering
影响因子:
--
通讯作者:
Kobayashi Hikaru
Kobayashi Hikaru
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Jurecka Stanislav;Pincik Emil;Imamura Kentaro;Matsumoto Taketoshi;Kobayashi Hikaru

文献摘要

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