二重量子ドットSi単電子トランジスタにおける少数電子系の結合容量の評価
二重量子ドットSi単電子トランジスタにおける少数電子系の結合容量の評価
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双量子点硅单电子晶体管少数电子系统耦合能力评估
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋庸夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
内田貴史;吉岡勇;有田正志;藤原聡;高橋庸夫
