High-bias conductance of atom-sized Cu contacts

High-bias conductance of atom-sized Cu contacts
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原子尺寸铜触点的高偏置电导

DOI:
10.1016/j.tsf.2004.06.033
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发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
2.1
通讯作者:
A. Sakai
A. Sakai
中科院分区:
材料科学3区
文献类型:
--
作者:
A. Fujii;A. Kusuda;Jun;T. Minowa;S. Kurokawa;A. Sakai

文献摘要

参考文献

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