High-bias conductance of atom-sized Cu contacts
High-bias conductance of atom-sized Cu contacts
复制标题
原子尺寸铜触点的高偏置电导
DOI:
10.1016/j.tsf.2004.06.033
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发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
2.1
通讯作者:
A. Sakai
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
A. Fujii;A. Kusuda;Jun;T. Minowa;S. Kurokawa;A. Sakai
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
影响因子:
--
作者:
Ito;H.;Nishioka;H.;Liang;X.G.;Asanuma;H;N. Yoshimura; Y. Miyaoka; M. Yamano; A. Yoshimura; Q. Feng; M. Terabayashi; H. Miyagawa; N. Tsurumachi; S. Koshiba; S. Nakanishi; H. Itoh;Ryo Suzuki
通讯作者:
Ryo Suzuki
DOI:
--
发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
作者:
Daisuke;Miura;Shu;Kurokawa;Akira;Sakai
通讯作者:
Sakai