S.Shimano: "Reliability of Single Electron Transistor Circuits Based onEb/No-BER Characteristics"Jpn.J.Appl.Phys.. 38(1B). 403-405 (1999)
S.Shimano: "Reliability of Single Electron Transistor Circuits Based onEb/No-BER Characteristics"Jpn.J.Appl.Phys.. 38(1B). 403-405 (1999)
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S.Shimano：“基于 Eb/No-BER 特性的单电子晶体管电路的可靠性”Jpn.J.Appl.Phys.. 38(1B)。
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