T.Ishida: "Structures and Properties of Electron-beam-evaporated Indium Tin Oxide Films as Studied by x-ray Photoelectron Spectroscopy and Work-function Measurements." J.Appl.Phys.73. 4344-4350 (1993)
T.Ishida: "Structures and Properties of Electron-beam-evaporated Indium Tin Oxide Films as Studied by x-ray Photoelectron Spectroscopy and Work-function Measurements." J.Appl.Phys.73. 4344-4350 (1993)
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T.Ishida：“通过 X 射线光电子能谱和功函数测量研究电子束蒸发氧化铟锡薄膜的结构和性能。”
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