A Two-Step In-Class Source Code Plagiarism Detection Method Utilizing Improved CM Algorithm and SIM

A Two-Step In-Class Source Code Plagiarism Detection Method Utilizing Improved CM Algorithm and SIM
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利用改进的 CM 算法和 SIM 的两步式源代码抄袭检测方法

DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
International Journal of Innovative Computing, Information and Control
影响因子：
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通讯作者：
Hajime Murao
Hajime Murao
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Asako Ohno;Hajime Murao

文献摘要

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