TSEE Phenomena from Defects in Insulators Formed by Scratching and Electron Bombardment
TSEE Phenomena from Defects in Insulators Formed by Scratching and Electron Bombardment
复制标题
划痕和电子轰击形成的绝缘体缺陷的 TSEE 现象
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Keiji Nakayama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.Gatsenko;Keiji Nakayama
