基于随机相关的电子部件二元加速退化可靠性评估
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DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
陈健
中科院分区：
文献类型：
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作者：
盖炳良;滕克难;王浩伟;王文双;陈健
