Exploring the Validity Limits of Direct Ptychographic Methods to Analyse 4D Scanning Transmission Electron Microscopy Datasets
Exploring the Validity Limits of Direct Ptychographic Methods to Analyse 4D Scanning Transmission Electron Microscopy Datasets
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探索直接叠印法分析 4D 扫描透射电子显微镜数据集的有效性限制
DOI：
10.1017/s1431927622002380
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发表时间：
2022
影响因子：
2.8
通讯作者：
Clark L
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Clark L
