Failure Trace analysis of Timed Circuits for Automatic Timing Constraints Derivation
Failure Trace analysis of Timed Circuits for Automatic Timing Constraints Derivation
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用于自动时序约束推导的定时电路的故障跟踪分析
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tomoya Kitai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomoya Kitai;Yusuke Oguro;Tomohiro Yoneda;Eric Mercer;Chris Myers;Denduang Pradubsuwun;Tomoya Kitai
