Total Photoelectron Yield Spectroscopy of Electronic States of Oxide Thin Films and Wide Bandgap Semiconductors
Total Photoelectron Yield Spectroscopy of Electronic States of Oxide Thin Films and Wide Bandgap Semiconductors
复制标题
氧化物薄膜和宽带隙半导体电子态的总光电子产率光谱
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and S. Miyazaki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Ohta;T. Yamamoto;N. Truyen;M. Ikeda;K. Makihara;and S. Miyazaki
