Study of local structure in rubrene thin films by Scanning Transmission X-ray Microscopy
Study of local structure in rubrene thin films by Scanning Transmission X-ray Microscopy
复制标题
扫描透射X射线显微镜研究红荧烯薄膜的局部结构
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takeaki Sakurai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Alexandre Foggiatto;Yasuo Takeichi;Kanta Ono;Hiroki Suga;Yoshio Takahashi;Michael A. Fusella;Jordan T. Dull;Barry P. Rand;Kentaro Kutsukake;Takeaki Sakurai
