Atomic-scale structural analysis by X-ray fluorescence holography and photoelectron diffraction
Atomic-scale structural analysis by X-ray fluorescence holography and photoelectron diffraction
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通过 X 射线荧光全息术和光电子衍射进行原子尺度结构分析
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Shimomura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Kambe;S. Ranjbar;K. Tanabe;S. Sumi and H. Awano;Komeda Tadahiro and Norio Okabayashi;M. Shimomura
