低温型独立駆動4探針STMによるSi(111)4×1-In上Ag薄膜の輸送特性測定III
低温型独立駆動4探針STMによるSi(111)4×1-In上Ag薄膜の輸送特性測定III
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使用低温独立驱动四探针 STM III 测量 Si(111)4×1-In 上银薄膜的输运特性
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
永村直佳;他
