GaNによるpn接合ダイオード中の光学的手法及び電気的手法による欠陥評価
GaNによるpn接合ダイオード中の光学的手法及び電気的手法による欠陥評価
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使用光学和电学方法评估 GaN pn 结二极管的缺陷
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
天野浩
中科院分区：
文献类型：
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作者：
本田善央;田中敦之;川崎晟也;出来真斗;天野浩
