Kinetics of atomic-scale fluctuations of steps on Si (001) measured with variable-temperature STM
Kinetics of atomic-scale fluctuations of steps on Si (001) measured with variable-temperature STM
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用变温 STM 测量 Si (001) 上台阶的原子尺度涨落动力学
DOI：
10.1016/0039-6028(95)90019-5
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发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Schacht
中科院分区：
文献类型：
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作者：
B. Swartzentruber;M. Schacht
