FO[<]-uniformity

FO[<]-uniformity
复制标题

FO[<]-均匀度

DOI：
10.1109/ccc.2006.20
复制
发表时间：
2006
期刊：
21st Annual IEEE Conference on Computational Complexity (CCC'06)
影响因子：
--
通讯作者：
K. Lange
K. Lange
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
C. Behle;K. Lange

文献摘要

被引文献

相似文献

引入了比通常的FO[<，+，*]-均匀性= FO[<，Bit]-均匀性更具限制性的均匀性概念。结果表明，如果考虑相应电路中门的扇入效应，Barrington等人提出的一般框架仍然成立
Uniformity notions more restrictive than the usual FO[<, +, *]-uniformity = FO[<, Bit]-uniformity are introduced. It is shown that the general framework exhibited by Barrington et al. still holds if the fan-in of the gates in the corresponding circuits is considered