Lifetime measurements of nuclear levels with the charge plunger technique
Lifetime measurements of nuclear levels with the charge plunger technique
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使用电荷柱塞技术进行核水平的寿命测量
DOI：
10.1016/0029-554x(70)90191-6
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发表时间：
1978
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Specht
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Ulfert;D. Habs;V. Metag;H. Specht
