H.Kobayashi: "New Method for observation of interface states in the semiconductor band-gap:XPS measurements under biases" Science Report of RITU. A44. 201-206 (1997)
H.Kobayashi: "New Method for observation of interface states in the semiconductor band-gap:XPS measurements under biases" Science Report of RITU. A44. 201-206 (1997)
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H.Kobayashi：“观察半导体带隙界面态的新方法：偏压下的 XPS 测量”RITU 科学报告。
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