Keiji OGURA, Takahide SAKAGAMI: "A New Inspection Technique for Small Flaws and Defects Using Infrared Thermography" Proc. of ASME-JSME Joint Conference on Electronic Packaging. 909-915 (1992)
Keiji OGURA, Takahide SAKAGAMI: "A New Inspection Technique for Small Flaws and Defects Using Infrared Thermography" Proc. of ASME-JSME Joint Conference on Electronic Packaging. 909-915 (1992)
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Keiji OGURA、Takahide SAKAGAMI：“使用红外热成像技术检测小缺陷和缺陷的新技术”Proc。
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