Electronic characterization of single grain boundary in ZnO :Pr varistors
Electronic characterization of single grain boundary in ZnO :Pr varistors
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ZnO :Pr 压敏电阻中单晶界的电子表征
DOI：
10.1016/s0272-8842(99)00110-8
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发表时间：
2000
影响因子：
5.2
通讯作者：
A. Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Mukae;A. Tanaka
