Rigorous derivation of a mean field model for the Ostwald ripening of thin films
Rigorous derivation of a mean field model for the Ostwald ripening of thin films
复制标题
薄膜奥斯特瓦尔德熟化平均场模型的严格推导
DOI：
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发表时间：
2020
影响因子：
1
通讯作者：
Dai, Shibin
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Dai, Shibin
