Level set modeling of transient electromigration grooving
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DOI：
10.1016/s0927-0256(00)00179-8
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发表时间：
2000-05
影响因子：
3.3
通讯作者：
M. Khenner;A. Averbuch;M. Israeli;M. Nathan;E. G. T. University;Technion;Haifa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Khenner;A. Averbuch;M. Israeli;M. Nathan;E. G. T. University;Technion;Haifa
