Observations of EUV spectra from highly charged heavy ions in optically thin plasmas for benchmarking of models
Observations of EUV spectra from highly charged heavy ions in optically thin plasmas for benchmarking of models
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观察光学薄等离子体中高电荷重离子的 EUV 光谱，用于模型基准测试
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Higashiguchi and G. O'Sullivan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Suzuki;F. Koike;I. Murakami;N. Tamura;S. Sudo;T. Higashiguchi and G. O'Sullivan
