シリコン半導体検出器を用いた二重ベータ崩壊探索実験の基礎研究
シリコン半導体検出器を用いた二重ベータ崩壊探索実験の基礎研究
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硅半导体探测器双β衰变搜索实验基础研究
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林竜嗣
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小林正規;奥平修;平井隆之;石丸亮;松本晴久;長谷川直;小林正規;小林正規;小林竜嗣
