Robust power grid network design considering EM aging effects for multi-segment wires
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DOI：
10.1016/j.vlsi.2020.10.001
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发表时间：
2021-03
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Han Zhou;Liang Chen;S. Tan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Han Zhou;Liang Chen;S. Tan
