FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
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用于 FPGA 定期现场测试的片上延迟测量
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
梶原誠司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
三宅庸資;佐藤康夫;梶原誠司
