Cross section measurement of nanoparticle with polarizationinterferometric confocal microscope
Cross section measurement of nanoparticle with polarizationinterferometric confocal microscope
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用偏振干涉共焦显微镜测量纳米粒子的横截面
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
C. Egami
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Norio Tanada;Takeshi Sakurai;Hidefumi Mitsuno;Douglas J Bakkum;Ryohei Kanzaki;Hirokazu Takahashi;C. Egami
