Diffraction angle tuning via control of micro-particle distance using line defect induced by electric field
Diffraction angle tuning via control of micro-particle distance using line defect induced by electric field
复制标题
利用电场引起的线缺陷控制微粒距离来调节衍射角
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kenji Tagashira
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kiseki Nakamura;et al;Kenji Tagashira;Kenji Tagashira;田頭健司;田頭健司;Kenji Tagashira
