Quantitative Measurement of Submicron Electrical Conductivity

Quantitative Measurement of Submicron Electrical Conductivity
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亚微米电导率的定量测量

DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
Journal of Physics D: Applied Physics 40
影响因子:
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通讯作者:
B. -F. Ju (Y. Ju and M. Saka)
B. -F. Ju (Y. Ju and M. Saka)
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K. Sasagawa(N. Yamaji;S. Fukushi);K. Sasagawa(S. Fukushi);B. -F. Ju (Y. Ju and M. Saka)

文献摘要

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