一种自偏置锁相环电路的分析与测试
一种自偏置锁相环电路的分析与测试
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DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鲍景富
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鲍飞鸿;郭伟;李智鹏;鲍景富
