Robust single-nanoparticle probe for contact-mode analysis and dip-pen nanolithography.
Robust single-nanoparticle probe for contact-mode analysis and dip-pen nanolithography.
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用于接触模式分析和浸笔纳米光刻的稳健单纳米粒子探针。
作者：
Taekyeong Kim;S. Myung;T. H. Kim;Seunghun Hong
影响因子：
3.9
作者：
Lulevich, Valentin;Zink, Tiffany;Liu, Gang-yu
通讯作者：
Liu, Gang-yu