Characterisation of SiCf/SiC Specimens Using an In-Situ Tensile Stage Within a Scanning Electron Microscope
Characterisation of SiCf/SiC Specimens Using an In-Situ Tensile Stage Within a Scanning Electron Microscope
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使用扫描电子显微镜内的原位拉伸台表征 SiCf/SiC 样品
DOI：
10.1115/gt2019-90356
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jordan S
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jordan S
