津田直幸,桑原誠: "等温過度容量法による(Ba,Sr)TiO_3系半導体セラミックス界面準位の定量的評価" J.Ceram.Soc.Japan. 103. 1006-1010 (1995)

Naoyuki Tsuda、Makoto Kuwahara：“通过等温瞬态电容法定量评估 (Ba,Sr)TiO_3 基半导体陶瓷的界面态”J.Ceram.Soc.Japan 103. 1006-1010 (1995)。