H.Fujisawa: "Characterization of MOCVD-TiO_2 and ZrO_2 Insulating Layers in MFIS Structures by DLTS and ICTS methods"Journal of the Korean Physical Society. (印刷中). (2003)

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H.Fujisawa:“通过 DLTS 和 ICTS 方法表征 MFIS 结构中的 MOCVD-TiO_2 和 ZrO_2 绝缘层”,韩国物理学会杂志(2003 年出版)。

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