Y.Kamiya,T.Miki and Y.Iwadare: "“Randomness Properties of Partial γ-β Planes as LSI Test Inputs and Their Implementations"" PROCEEDINGS OF THE 11TH AAECC SYMPOSIUM,PARIS,FRANCE. 297-305 (1995)
Y.Kamiya,T.Miki and Y.Iwadare: "“Randomness Properties of Partial γ-β Planes as LSI Test Inputs and Their Implementations"" PROCEEDINGS OF THE 11TH AAECC SYMPOSIUM,PARIS,FRANCE. 297-305 (1995)
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Y. Kamiya、T. Miki 和 Y. Iwadare：“作为 LSI 测试输入的部分 γ-β 平面的随机性及其实现”，第 11 届 AAECC 研讨会论文集，法国巴黎 297-305（1995 年）。
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