T. Nakano, Y. Nakano, and Y. Shimogaki: "Kinetic ellipsometry measurement of InGaP/GaAs hetero-interface formation in MOVPE"J. Crystal Growth. 221. 136-141 (2000)
T. Nakano, Y. Nakano, and Y. Shimogaki: "Kinetic ellipsometry measurement of InGaP/GaAs hetero-interface formation in MOVPE"J. Crystal Growth. 221. 136-141 (2000)
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T. Nakano、Y. Nakano 和 Y. Shimogaki：“MOVPE 中 InGaP/GaAs 异质界面形成的动力学椭圆光度测量”J。
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