Nondestructive method for quantifying thallium dopant concentrations in CsI:Tl crystals.
Nondestructive method for quantifying thallium dopant concentrations in CsI:Tl crystals.
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用于量化 CsI:Tl 晶体中铊掺杂剂浓度的无损方法。
DOI:
10.1016/j.apradiso.2013.08.002
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发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Brecher,Charles
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Miller,StuartR;Ovechkina,ElenaE;Bennett,Paul;Brecher,Charles