Microscopic infrared thermography for fast estimation of the thermal properties of thin films
Microscopic infrared thermography for fast estimation of the thermal properties of thin films
复制标题
用于快速评估薄膜热性能的显微红外热成像技术
DOI：
10.1063/1.5037931
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发表时间：
2018
影响因子：
3.2
通讯作者：
Duquesne M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Godin A.;Palomo del Barrio E.;Morikawa J.;Duquesne M.
