PUND measurements for the BiFeO_3 films-Temperature dependence of the ferroelectricity-
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复制标题
BiFeO_3 薄膜的 PUND 测量-铁电性的温度依赖性-
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Soichiro Okamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroshi Naganuma;Yosuke Inoue;Soichiro Okamura
