PLE 分光によるGaN/AlN単一量子ドット中のエネルギー緩和過程の観測

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PLE 光谱观察 GaN/AlN 单量子点能量弛豫过程

DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
荒川泰彦
荒川泰彦
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
P. Podemski;M. Holmes1;加古 敏;有田宗貴;荒川泰彦

文献摘要

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